王真

发布日期:2016-01-05      浏览次数:6838

姓名:王真性别:
学历:博士研究生职称: 副教授
电话:Email:wangzhenqq@shiep.edu.cn
办公地址:计电楼A310
个人简介:

王真,毕业于同济大学模式识别与智能系统专业,获工学博士学位,硕士生导师。中国计算机学会(CCF)容错专委委员,CCF YOCSEF上海委员。曾在2008-2013年在全球最大EDA主导企业Synopsys任高级工程师,负责了数/模电路版图设计Cadabra的模块研发,以及CD产品Floorplanner等多个项目的研发。高校任教后在国内外重要期刊和会议上发表论文近二十篇。2020年第11CCF中国测试学术会议获得最优论文奖,并且主持了“近似计算技术论坛”。2015年分别在上海市第三届申狮杯高校青年教师教学技能大赛以及校第七届教师教学决赛中获三等奖。2014年荣获优秀共产党员荣誉称号.

研究方向:
主要为人工智能芯片,硬件木马检测,近似计算及近似电路可靠性评估。
主讲课程:
计算机组成原理、高级程序设计(Python)、程序设计基础(C)
科研成果:


论文

1.     Zhen Wang, Guofa Zhang, Jing Ye and Jianhui Jiang. Reliability Evaluation of Approximate Arithmetic Circuits Based on Signal Probability. The International Test Conference in Asia, August 18-20, 2021.

2.     Zhen Wang, Zhen Zhang, Jianhui Jiang. Multi-Feature Fusion based Image Steganography using GAN. The 32nd International Symposium on Software Reliability Engineering (ISSRE), Wuhan China, Oct 25-28, 2021 (CCF-B).

3.     Zhen Wang, Guofa Zhang, Wei Huang, Yong Wang, Jianhui Jiang. Accurate Approximate Computing Circuit Reliability Analysis Methods. CCF CTC 2020, pp.1-11. Xi`an, China, August 20-23, 2020. (获“最优论文”奖)

4.  Zhen Wang, Jianhui Jiang, Tao Wang. Failure probability analysis and critical node determination for approximate circuits. Integration, the VLSI Journal2019, 68(5):122-128. (CCF-C, SCI)

5.  王真,江建慧,陈乃金,卢光明,张颖。BTI作用下三因素对集成电路软差错率的影响。计算机研究与发展,2018,55(5):1108-1116.(核心,EI)

6.  王真,江建慧,陈乃金。考虑偏置温度不稳定性的软差错率分析。电子与信息学报,2017,39(7):1640-1645.(核心,EI)

7.  王真,江建慧。软差错影响下的电路可靠性分析。计算机科学,43(5),pp.9-12,2016.(核心)

8.  Zhen Wang, Jianhui Jiang.Effect of Bias Temperature Instability on Soft Error Rate. The 15th International Conference on Algorithms and Architectures for Parallel Processing(ICA3PP 2015),pp.736-745. Springer, Zhangjiajie, China, November 18-20, 2015. (CCF-C, EI)

9.  Zhen Wang,Jie Xiao,Jungang Lou, Bo Li.Combine Lower Level Factors in Gate-level Circuit Reliability Estimation Model. Journal of Computational Information Systems1012, pp.5381-5390, 2014.(EI)

10.  王真李舫卢芳芳。电路软差错率评估综述。上海电力学院学报,31(4),pp.369-375,2015.

11.  王真。门级电路可靠性评估方法比较。上海电力学院学报,30(2),pp.155-160,2014.

12.Tao Wang, Jianhui Jiang*, and Zhen Wang. Reliability estimation of approximate circuits based on probabilistic gate model. Proceedings of IEEE 24th Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing, Kyoto, Japan, Dec 2019, pp. 55-56. (EI)

13.Jianhui Jiang, Guangming Lu, Zhen Wang, Methods for Approximate Adders Reliability Estimation Based on PTM Model, in: IEEE 23rd Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC), Taipei, Taiwan, Dec 2018, pp. 221-222. (EI)

14.张颖,张嘉琦,王真,江建慧。基于有界模型检测的门级软件自测试方法。同济大学学报(自然科学版),20184611):1576-1581.

15.凌立,江建慧,张颖,王真。基于聚类的异步时钟SoC测试。电子学报,201745(3),740-746.(核心,EI)

专利与软著

1.  王真等。种基于近似电路脆弱性分析的电路测试方法。发明专利(申请号201910531138.7)2019.

2.  王真等。一种适用于近似计算电路可靠性分析方法及系统。发明专利,已授权(ZL 202010819255.6)授权日20210903.

3.  章国发,王真。基于信号概率的近似计算电路可靠度评估。发明专利(申请号202110137149.4),2021.

4.  张震,王真。一种基于多层次特征融合的对抗网络图像隐写方法。发明专利(申请号202110752038.4),2021.

5.  李鑫,王真。一种基于电路结构分析的硬件木马检测方法。发明专利,2020

6.  王真。数字电路可靠性预测软件。软件著作权,已授权(2014SR174555)。

科研项目:


1)  

1)计算机体系结构国家重点实验室开放课题(CARCHA202005),面向差错容忍应用的近似电路可靠性预测技术研究,2021.1-2022.12,主持

2) 与上海激光电源设备有限责任公司合作项目(H2016-006):多通道高速数据采集软件的研制,主持。

3)  上海市教委项目(Z2015-074): 基于映射的VLSI电路可靠性评估方法及其在3D IC中的应用,主持。

4)  上海电力学院人才启动基金项目(K2013-017)VLSI电路多层次可靠性评估方法研究,主持。

5)国家自然科学基金重点项目“差错容忍计算器件基础理论与方法”(61432017),参与。

6)上海市科委基础研究重点项目,电力监测无线传感器网络的故障诊断与安全机制(12JC1404500),参与。

7)上海市科委地方能力建设项目,面向智能电网互动用电信息质量的数据安全关键技术研究(No.15110500700),参与。




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